sem磁性樣品工作距離

1、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(1)sem磁性樣品工作距離擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

2、磁體可否做掃描電鏡？

會有影響，最好退磁後觀察。如果不退磁，需要測量磁體磁通量減小到接近零的距離，以這個距離來確定SEM WD, 當然WD越大解析度越低，不過一般看個幾千倍還是沒問題的。如果是冷場發射掃描電鏡，一般使用的是半內物鏡，即物鏡磁場在樣品室內部，這就需要更加註意，即使退磁的樣品也要保持在磁場之外，使用較大的WD,不退磁的樣品工作距離要求更大。
如果未退磁，注意磁體不要吸附在物鏡表面，或者極靴孔內，尤其粉末材料，也許都是微米級別的粉末，會造成固定象散，大幅度降低電鏡解析度，用戶根本不知所措，需要非常專業人員拆卸物鏡來特殊處理。如果被污染的電鏡是進口的，請准備10萬元人民幣，他們大多在國內的維修工程師根本不靈，需要洋人親自出馬，所以有不幸掃描電鏡被污染的客戶，尤其是大學實驗室，得了恐懼症，見到磁性樣品就害怕，一刀切都不給做。COXEM Beijing Office的中國工程師有這個技術，收費也不低哦。

3、請問一下：在調節掃描電鏡聚焦時為什麼工作距離會變？

工作距離WD的概念是物鏡下表面到試樣表面的距離，但是由於每次放入不同樣品的高度不一樣，每個樣品上的不同區域的形貌起伏也不同，這均使得WD發生變化。所以，操作掃描電鏡時，需要做的第一件事就是先粗略地標定WD，方法就是在某一特定放大倍數下獲得聚焦清楚的圖像，根據此時的焦長自動標定出相對准確的WD，而後，你繼續調節WD的數值才是相對真實可信的。注意，調節WD是要靠機械馬達，而利用焦距判定WD是利用焦長以及SEM的系統軟體，相比之下，前者是粗調，後者是精確值。你在同一試樣上的不同高度的微區聚焦時，該微區距離物鏡下表面的WD精確值當然會因聚焦條件的變化而被重新校正。所以拍照所得的WD會發生微小的變化。

4、掃描電鏡sem和透射電鏡tem對樣品有何要求

透射電鏡是用高能電子束（加速電壓一般在200KV以上）照射樣品，透過樣品的電子由於樣品厚度、元素、缺陷、晶體結構等的不同，會產生不同的花樣或圖像襯度，由此可以推測樣品的相關信息。由於電子束要能透過樣品，因此樣品厚度要求很薄，一般要小於100納米。如果要做高分辨，要求更薄。

5、請問大家，SEM樣品都是如何進行前處理的？

用乙醇分散一下，然後塗在導電膠上，最後用洗耳球吹一下，把多餘的吹掉

6、關於SEM掃描電鏡的幾個問題，求大神出現...

如果是即將開始學習儀器操作的管理人員，建議先系統學習理論知識，再找專業的儀器工程師培訓。如果是學生，要使用電鏡，從安全形度考慮，1、2、3幾項通常是值機人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機，一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟體一般都已經設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻後再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極限時會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備；4，電子束與試樣作用，可激發出多種信號，如二次電子信號（用於形貌觀察），背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究），這些信號已經被有效的加以利用，這是一門獨立的學科，若需要詳細了解，你需要系統地學習一下。

7、sem上的工作距離會對圖像放大倍數有影響嗎

?

8、環境樣品磁性測量

環境樣品磁性測量比較復雜，有的要在實驗室外加強磁場測量人工剩磁，除此之外是測量樣品的天然剩磁和磁化率。在古地磁研究中，還需要確定磁化強度的穩定性、居里點、飽和磁化強度和矯頑磁力。

4.4.2.1 環境樣品磁化率測量

環境樣品類似於土壤樣品，不研究樣品的磁化方向。

環境樣品在外磁場中受感應，產生的磁化強度（M）與外加磁場（H）的比值（κ）稱樣品的磁化率。

環境地球物理學概論

環境樣品的磁化率，可用體積磁化率（κ）和質量磁化率（χ）表示，兩者的關系為

環境地球物理學概論

式中：ρ為物質的密度，g/cm3，χ單位記作SI（χ），m3/kg；它與CGS制的關系為χ（SI）=4π×10-3χ（CGSM）。

岩石或者環境樣品的磁化率都是外加磁場的函數，只是在弱磁場中（即地磁場中），這種磁化才可以看成是線性的。在地球科學研究中，不僅研究岩石磁化率的數值，而且要研究磁化的方向性。

岩石或樣品的磁性測量，原則上講，凡能測量磁場分量的磁力儀，如懸絲式磁力儀，無定向磁力儀，磁通門磁力儀和卡帕橋等，都可以用來測量磁化率。只是所能達到的精度不同而已。

從測量方法來講，測量岩石（或樣品）磁性的方法主要有靜態法和磁感應法。無定向磁力儀測量屬靜態法，激勵場源為穩定場，卡帕橋測量屬感應法，激勵場源為交變場。其他測量方法，基本上由此派生。無定向磁力儀，靈敏度高（可達10-8），但對場地環境要求嚴格，受干擾因素較多，現在已經很少應用。

（1）卡帕橋儀磁化率測量方法

在地磁場中測量樣品磁性，是比較方便的常用的磁感應方法。常用的儀器有捷克的KLY-1型，KLY-2型和KLY-3型以及我國的HKB-1型，KLY-2型和KLY-3型為數字式讀數。主要用於測量岩石的磁化率。

儀器（以KLY-1型為例）主要由交流電橋組成，橋路由四個線圈S、S′、W1、W2構成四臂，如圖4.4.1所示，S為測量線圈，測量樣品放入其中；S′為平衡線圈，內有小的鐵氧體，可上下移動，調節電橋的平衡，W1、W2是差動變壓器的兩個次級繞組；圖中Am1、Am2、Am3為放大器；Dm為檢波器，G為970Hz交變電壓，M1、M2為讀數顯示裝置。

打開儀器，在樣品放入測量線圈之前，先要使用電位器P，調節電橋平衡，樣品放入S後，電感增大，電橋失衡，再調節分壓器Dr和電位器B，使電橋重新達到平衡，可以讀出磁化率值。

測量之前要做好樣品，環境樣品准備與土壤樣品准備類似，將風干之後的顆粒樣品放入高4 cm，直徑7～8 cm的無磁性材料製成的容器，一般為塑料或玻璃容器。裝填要均勻，表面要平整，並稱重量，記錄容積。

圖4.4.1 Kly-1型卡帕橋原理圖

（2）磁通門儀磁化率測量法

使用的儀器為WCL-1型輕便磁化率測量儀，可以測量樣品，也可現場測量，儀器為率表讀數，測量范圍為10×10-6CGSM～3CGSM，解析度為5×10-6CGSM。測量樣品一般裝入高4 cm，直徑為7～8 cm的塑料或玻璃盒內，進行測量。

4.4.2.2 天然剩磁測量方法

天然剩磁的測量儀器現在應用的主要是磁能門磁力儀，美國的DSM-1，2型數字旋轉式儀，美國的Mini-Spin和WSW型無定向磁力儀。其中旋轉式磁力儀應用較多。

旋轉磁力儀的原理是在線圈內或磁通門系統附近磁化樣品，連續旋轉所產生交變電壓振盪。輸出電壓的振幅正比於旋轉軸垂直的磁矩分量，而電壓的相位則利用被測分量的方向與樣品的參考方向之間的關系來確定。總矢量可由樣品繞第二個正交軸旋轉得到，實際上是樣品依次繞三個軸旋轉以取得NRM所有分量的平均值，從而減少樣品的非均勻性的影響。當標本繞z軸旋轉時，可測得標本總磁矩U在xOy平面上的投影Uxy的大小及與x軸的夾角φyz與φzx，整理得標本的磁矩Uy和剩餘磁化強度Mr。

環境地球物理學概論

由測得的相位角可計算Mr的偏角和傾角。

磁化率儀在測定岩石標本時，將標本放在有電流的線圈旁，由於磁感應能量的變化而產生附加電動勢，從而測定岩石磁化率。磁化率儀只能測定岩石的磁化率，但測定快速方便，因而應用較廣。

9、鐵氧體永磁材料做SEM時，需要注意什麼啊？

原文由fengyonghe(fengyonghe)發表:掃描電鏡的試樣即使是弱磁性的都不能做，更何況是鐵氧體永磁材料。電子束被試樣磁場偏轉，會產生意想不到的結果。樣品室可能被磁場污染。