1、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
2、請問大家，SEM樣品都是如何進行前處理的？
用乙醇分散一下，然後塗在導電膠上，最後用洗耳球吹一下，把多餘的吹掉
3、SEM樣品為什麼噴金
SEM成像原理是用電子束掃描樣品，如果樣品不導電，樣品上就會累積起負電荷，電荷的多少會影響成像質量。噴金以後，樣品上就不會有太多的負電荷。這樣成像比較穩定。
4、SEM試樣有什麼要求
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5、掃描電鏡sem和透射電鏡tem對樣品有何要求
透射電鏡是用高能電子束（加速電壓一般在200KV以上）照射樣品，透過樣品的電子由於樣品厚度、元素、缺陷、晶體結構等的不同，會產生不同的花樣或圖像襯度，由此可以推測樣品的相關信息。由於電子束要能透過樣品，因此樣品厚度要求很薄，一般要小於100納米。如果要做高分辨，要求更薄。
6、SEM為什麼不能觀察生物樣品
掃描電鏡可以觀察生物樣品！當前SEM在生物組織形態結構方面研究普遍應用。
你向問的問題似乎是：SEM為什麼不能觀察活的生物樣品？
傳統掃描電鏡工作模式需要將樣品處於高真空環境下，因此對樣品的基本要求是乾燥、無油、導電。
這種條件下，無法滿足活生物樣觀察！但活的生物樣品在一定時空下的形態，通過生物組織固定，脫水，乾燥，噴金即可觀察，可以了解在有生命狀態下的組織結構特徵。
為了實現活的生物樣品觀察，美國公司開發的環境掃描電鏡已經商品化！
7、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序？
XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。
8、在表徵塑料樣品時，有沒哪種SEM是不需要噴金的呢？
採用低真空模式或環境掃描模式
9、請問在SEM分析的樣品需要拋光得很光滑么？
SEM拋光我想應該是要清潔一下表面，避免表面含有一些臟東西之類的，如果是要看組織，不僅最後不是拋光，而且做SEM之前還需要腐蝕，SEM的二次電子成像原理就是要求表面凹凸不平，如果拋光了的話就沒辦法看二次電子像了，只能用背散射看了