1、請教如何用SEM觀察鋼解理斷口, 找到起裂點的位置
解理斷裂屬於脆斷
應該是在大應力作用下發生的
尋找斷口的起源
一般是在宏觀下
或者是低倍微觀下觀察
根據斷口撕裂棱的走向
或者是解理河流花樣的走向來判斷源區的方向
脆斷的宏觀斷口一般都會有明顯的撕裂棱
根據這些應該能找到斷口的起源部位
考慮一下該試樣的受力情況
結合這個做出判斷
2、二氧化鈰納米顆粒如何用SEM觀察
沒有什麼可以不可以的。要看你想說明什麼。可以將你的顆粒配置成乙醇或丙酮的懸濁液進行超聲處理。然後將懸濁液滴到導電膠上。乾燥或吹乾後即可測量。要自己掌握懸濁液的濃度以得到理想的分散效果。這個可以做幾個不同的濃度先試驗下。
3、請教不導電樣品的SEM觀察
嘿嘿 這位同學應該剛剛接觸到這個sem吧！簡單的說吧——由於sem的成像原理是通過detecter獲得二次電子和背散射電子的信號，而若樣品不導電怎或造成樣品表面多餘電子或游離粒子的累積不能及時導走，一定程度後就反復出現充電放電現象（charging)。
4、如何利用sem觀察材料內部結構
觀察不同類型的材料做對比的話，盡量選取相同放大倍數的照片進行對比。這樣的話更有說服力，SEM最大的作用就是觀察材料的微觀結構和形貌，如果准備寫文章的話，文章中將你的SEM照片視野范圍內的現象描述清楚即可。
5、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
6、SEM為什麼不能觀察生物樣品
掃描電鏡可以觀察生物樣品！當前SEM在生物組織形態結構方面研究普遍應用。
你向問的問題似乎是：SEM為什麼不能觀察活的生物樣品？
傳統掃描電鏡工作模式需要將樣品處於高真空環境下，因此對樣品的基本要求是乾燥、無油、導電。
這種條件下，無法滿足活生物樣觀察！但活的生物樣品在一定時空下的形態，通過生物組織固定，脫水，乾燥，噴金即可觀察，可以了解在有生命狀態下的組織結構特徵。
為了實現活的生物樣品觀察，美國公司開發的環境掃描電鏡已經商品化！