sem襯度

1、掃描電鏡(SEM)中表面形貌襯度和原子序數襯度各有什麼特點

二次電子信號來自於樣品表面層5～l0nm,電子與樣品原子的核外電子作用，一部分能量轉移到原子，導致原子中的一個電子被逐出而產生二次電子。二次電子信號強弱與樣品表面粗糙度有關，可利用二次電子成像的模式-SEI模式觀察樣品表面形貌。

電子與樣品原子的原子核發生彈性碰撞，電子方向發生改變，但無能量損失，這樣的電子叫背散射電子。背散射電子信號強弱與樣品原子的原子量有關，可利用背散射電子成像的模式-BSE模式觀察樣品表面元素分布情況。

2、SEM和TEM區別

SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning
Electronic
Microscopy.
TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission
Electron
Microscope.
區別：
1.
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像.
TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
2.
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
3.
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。

3、掃描電鏡sem和透射電鏡tem對樣品有何要求

透射電鏡是用高能電子束（加速電壓一般在200KV以上）照射樣品，透過樣品的電子由於樣品厚度、元素、缺陷、晶體結構等的不同，會產生不同的花樣或圖像襯度，由此可以推測樣品的相關信息。由於電子束要能透過樣品，因此樣品厚度要求很薄，一般要小於100納米。如果要做高分辨，要求更薄。

4、SEM與TEM的區別

SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.

區別：

SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。

SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。

TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。

5、透射電鏡與掃描電鏡的襯度來源有何不同？為什麼有些結構在TEM是黑色的,而在SEM白色的

通俗的說 掃描電鏡是相當與對物體的照相 得到的是表面的 只是表面的 立體三維的圖象 因為掃描的原理是「感知」那些物提被電子束攻擊後發出的此級電子 而透射電竟就相當於普通顯微鏡 只是用波長更短的電子束替代了會發生衍射的可見光 從而實現了顯微 是二維的圖象 會看到表面的圖象的同時也看到內層物質 就想我們拍的X光片似的 內臟骨骼什麼的都重疊著顯現出來 總結就是透射雖然能看見內部但是不立體 掃描立體但是不能看見內部 只局限與表面

6、什麼是SEM？

7、FTIR和SEM是什麼?

FTIR是指紅外光譜儀器的第三代傅立葉變換紅外吸收光譜儀（FTIR)。SEM是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具掃描電子顯微鏡。

8、SEM-EBSP和SEM-ECC是什麼技術？

SEM 掃描電子顯微鏡
EBSD 電子背散射衍射
EBSP 電子背散射衍射花樣
ECC 電子通道襯度

9、SPM相對於SEM,TEM的優缺點是什麼

這個問題在本科的時候應該給你講清楚的，不要以為很少有人能完全將透徹明白，因為你坐在井裡面，我其實也坐在井裡面，不過你的井口在我的井底，下次問問題的時候要虛心一點。
看你求知慾望還是有點，就告訴你吧！
1、SEM樣品收集的有二次電子和背散射電子，二次電子用於表面成像，背散射用於不同平均原子量之間的像，就是電子打在樣品上，激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成的像. TEM是透射電鏡，它可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。投射電鏡的解析度比掃描電鏡要高一些。
2、SEM樣品就我們普通的金相樣品酒可以拿去做，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴。

10、掃描電鏡的se和bse模式有什麼區別

收集信號不同。SE：二次電子；BSE：背散射電子

解析度不同。SE：高；BSE：低

圖像襯度不同。SE：形貌襯度；BSE：質厚襯度

應用目的不同。SE：圍觀立體形貌；BSE：元素、相二維分布