1、檢測玩xps還可以檢測sem嗎
當然可以的，XPS更注重表面分析及刻蝕分析，SEM掃面電鏡可以觀察形貌，兩者互相佐證是可以的
2、請問SEM可以測液體嗎？
我做過一些次SEM的液體樣品，不過都是把液體樣品放在樣品盤上烘乾之後，噴金，然後再做測試的，一般的 ，一點樣品就夠了，很少的計量 ，但是還是看濃度吧 ，我們的儀器不好，一般都是拿到理化分析中心測的
3、27歲工程檢測轉SEM該怎麼找工作？
從網上找就行了
但是這工作需要好多企業都要有工作經驗的
你要是新手容易被拒絕
可以先找個能接觸到SEM的工作
邊干邊學積累點經驗
4、磁控濺射做的薄膜能用SEM測試嗎
可以的 不過做SEM的時候最好用導電或者半導體材料作為基底 如果用glass非導電基底要加上導電膠 而且容易在表面產生電荷看不清楚的
5、掃描電鏡（SEM）能測出晶型嗎
理論上單純用SEM不能測出晶型，測晶型一般用XRD等儀器。掃描電鏡只能觀察形貌，解析度可達亞微米級別。
不過對於特定的樣品，如果具有明確的晶型，藉助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一種物質只有區別明顯的兩種晶型，藉助確定的形貌可以推斷是那種晶型）。另外，SEM通過加裝EBSD附件，通過觀察也有可能觀察晶型
6、磁體可否做掃描電鏡？
會有影響，最好退磁後觀察。如果不退磁，需要測量磁體磁通量減小到接近零的距離，以這個距離來確定SEM WD, 當然WD越大解析度越低，不過一般看個幾千倍還是沒問題的。如果是冷場發射掃描電鏡，一般使用的是半內物鏡，即物鏡磁場在樣品室內部，這就需要更加註意，即使退磁的樣品也要保持在磁場之外，使用較大的WD,不退磁的樣品工作距離要求更大。
如果未退磁，注意磁體不要吸附在物鏡表面，或者極靴孔內，尤其粉末材料，也許都是微米級別的粉末，會造成固定象散，大幅度降低電鏡解析度，用戶根本不知所措，需要非常專業人員拆卸物鏡來特殊處理。如果被污染的電鏡是進口的，請准備10萬元人民幣，他們大多在國內的維修工程師根本不靈，需要洋人親自出馬，所以有不幸掃描電鏡被污染的客戶，尤其是大學實驗室，得了恐懼症，見到磁性樣品就害怕，一刀切都不給做。COXEM Beijing Office的中國工程師有這個技術，收費也不低哦。
7、高分子材料測sem可以不用脆斷嗎
高分子材料測sem可以不用脆斷
XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。