SEM和EDS測試區別

1、EDS、EDX和EDXRF有什麼區別

區別如下：

1、EDX是熒光分析，EDS是能譜分析，EDXRF是能量色散型熒光X射線。

2、EDS能量色散溥儀，按能量展譜，主要器件為Li-Si半導體探測器.主要利用X光量子的能量不同來進行元素分析。

3、EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的， 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡使用，可以對樣品進行微區成分分析。

(1)SEM和EDS測試區別擴展資料：

EDS是多義詞，汽車製造領域是指（ 電子差速鎖）英文全稱為ElectronicDifferentialSystem， 它是ABS的一種擴展功能，用於鑒別汽車的輪子是不是失去著地摩擦力，從而對汽車的打滑車輪進行控制。另有an HP company 是全球信息服務業領導者之一，以協助全球客戶提高企業的運營績效。另有EDS (能譜，Energy Dispersive Spectrometer)，EDS電氣設計軟體包。另有CANopen協議描述專用電子數據表格。

EDS的工作原理比較容易理解。因為差速器允許傳動軸兩側的車輪以不同的轉速轉動，如果傳動軸某一側的車輪打滑或者懸空時，會造成另一側車輪完全沒了動力，當EDS電子差速鎖通過ABS系統的感測器，自動探測到由於車輪打滑或懸空而產生的兩側車輪轉速不同的現象時，就會通過ABS系統對打滑一側的車輪進行制動，從而使驅動力有效地作用到非打滑側的車輪，保證汽車平穩起步。當車輛的行駛狀況恢復正常後，電子差速鎖即停止作用。

當汽車驅動軸的兩個車輪分別在不同附著系數的路面起步時，例如一個驅動輪在乾燥的柏油路面上，另一個驅動輪在冰面上，EDS電子差速鎖則通過ABS系統的感測器會自動探測到左右車輪的轉動速度，當由於車輪打滑而產生兩側車輪的轉速不同時，EDS系統就會通過ABS系統對打滑一側的車輪進行制動，從而使驅動力有效地作用到非打滑側的車輪，保證汽車平穩起步。

常用的EDX探測器是硅滲鋰探測器。當特徵X射線光子進入硅滲鋰探測器後便將硅原子電離，產生若干電子-空穴對，其數量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對，經過一系列轉換器以後變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，並計數能譜中每個能帶的脈沖數。

2、XRD、IR、SEM、EDS及紫外可見吸收的測試原理及具體分析步驟（材料測試技術裡面的）

SEM：材料的表面形貌，形貌特徵。配合EDX可以獲得材料的元素組成信息
TEM：材料的表面形貌，結晶性。配合EDX可以獲得材料的元素組成
FTIR：主要用於測試高分子有機材料，確定不同高分子鍵的存在，確定材料的結構。如單鍵，雙鍵等等
Raman：通過測定轉動能及和振動能及，用來測定材料的結構。
CV：CV曲線可以測試得到很多信息，比如所需電沉積電壓，電流，以及半導體行業可以得到直流偏壓
EIS：EIS就是電化學交流阻抗譜測試可以得到電極電位，阻抗信息，從而模擬出系統內在串聯電阻，並聯電阻和電容相關信息
BET：主要是測試材料比表面積的，可以得到材料的比表面積信息。
XRD：主要是測試材料的物性，晶型的。高級的XRD還可以測試材料不同晶型的組分。
質譜：主要用於鑒定材料的化學成分，包括液相質譜，氣象質譜

3、掃描電鏡和透射電鏡的EDS對分析樣品的成分有什麼不同？

SEM TEM 都是主要用來分析形貌。他兩相比較TEM的解析度要高於SEM。TEM給出的是一個平面圖，可以告訴你樣品的形貌特這，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌結構的，給出的是立體圖，對觀察棒狀，球狀，等等材料材料有很好的視覺效果。EDS是分析成分的，一般是配套於TEM儀器上。它分析的是樣品表面面某個小的部分的元素組成，不能代表樣品整體組成。

4、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區別以及各自的應用

SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用於微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用於物相分析的檢測設備。
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM，圖2-17、18、19）於20世紀60年 代問世，用來觀察標本的表面結構。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子 束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。為了使標本表面發射出次級電子，標本在固定、脫水後，要噴塗上一層重金屬微粒，重金屬在電子束 的轟擊下發出次級電子信號。 目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特徵能量不同這一特點來進行成分分析的。使用范圍：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；
3、可對固體材料的表面塗層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。

5、SEM+EDS分析是什麼意思啊? 全稱是什麼?

SEM(scanning electron microscope)：掃描式電子顯微鏡
EDS（Energy Dispersive Spectrometer）：X光微區分析

6、跪求PCB行業中SEM+EDS測試方法，非常感謝！！

PCB失效原因越來越多，在以前看起來難以發現的問題，現在可以用掃描電子顯微鏡與能譜(SEM&EDS)分析出來。本文介紹了在PCB生產過程中利用SEM&EDS發現的三個較為經典的案例，介紹了該技術在實際解決問題過程中的關鍵作用
：（SEM-EDS）在PCB失效分析中的應用

7、sem-eds 分析元素 只是表面的嗎

eds是一種表面微區分析的表徵手段，它的作用深度大概是樣品表面1微米左右