sem測試用固體還是液體

1、x射線衍射儀測試對象是液體還是固體

固體，X射線衍射儀主要針對結構分析，
如果是X射線光譜儀 液體和固體都能測試。

2、粉體SEM表徵，是用銅片還是導電橡膠？

可以現在乙醇中超聲分散，然後用矽片撈取樣品，用導電膠粘在樣品台上，這樣看纖維我覺得比較好另外，如果實在要看固體粉末，不要直接粘在導電膠上，這樣不是很好，我覺得還是用銅片好一點，不過盡量不要看固體，高度不均的情況下，看到的圖像也是相稱度很差

3、紫外可見分光光度計是檢測是檢測固體還是液體的呢？

它是用來檢測物質組成、含量和結構分析、推斷的
所以固體液體都可以

4、時間分辨熒光測試是固體樣品還是液體？

時間分辨熒光分析法（Time resolved fluoroisnmunoassay,TRFIA）是近十年發展起來的一測微量分析方法，是目前最靈敏的微量分析技術,其靈敏度高達10-19，較放射免疫分析（RIA）高出3個數量級。

時間分辨熒光分析法（TRFIA）實際上是在熒光分析（FIA）的基礎上發展起來的，它是一種特殊的熒光分析。熒光分析的利用了熒光的波長與其激發波長的巨大差異克服了普通紫外－可見分光分析法中雜色光的影響，同時，熒光分析與普通分光不同，光電接受器與激發光不在同一直線上，激發光不能直接到達光電接受器，從而大幅度的提高了光學分析的靈敏度。但是，當進行超微量分析的時候，激發光的雜散光的影響就顯得嚴重了。因此，解決激發光的雜散光的影響成了提高靈敏度的瓶頸。

解決雜散光影響的最好方法當然是測量時沒有激發光的存在。但普通的熒游標志物熒光壽命非常短，激發光消失，熒光也消失。不過有非常少的稀土金屬（Eu、Tb、Sm、Dy)的熒光壽命較長，可達1－2ms，能夠滿足測量要求，因此而產生了時間分辨熒光分析法，即使用長效熒游標記物，在關閉激發光後再測定熒光強度的分析方法。

平時常用的稀土金屬主要是Eu(銪）和Tb(鋱），Eu熒光壽命1ms,在水中不穩定，但加入增強劑後可以克服；Tb熒光壽命1.6ms，水中穩定，但其熒光波長短、散射嚴重、能量大易使組分分解，因此從測量方法學上看Tb很好，但不適合用於生物分析，故Eu最為常用。

由於常用Eu作為熒游標記，因此增強劑就成了試劑中的重要組成。增強劑原理：利用含絡合劑、表面活性劑的溶液的親水和親脂性同時存在，使Eu在水中處於穩定狀態。現在有些試劑，在絡合Eu在抗體上時已考慮了增強問題，而使用了具有增強作用的新絡合劑，因而有的試劑沒有單獨的增強劑。

隨著檢驗醫學的發展，對微量、超微量的測定會越來越多，同時RIA的污染問題會越來越被重視，因此，時間分辨熒光分析法（TRFIA）具有越來越大的應用空間。

5、pta分析純是液體還是固體

PTA分析純是白色晶體或粉末，即固體

6、請問SEM可以測液體嗎？

我做過一些次SEM的液體樣品，不過都是把液體樣品放在樣品盤上烘乾之後，噴金，然後再做測試的，一般的 ，一點樣品就夠了，很少的計量 ，但是還是看濃度吧 ，我們的儀器不好，一般都是拿到理化分析中心測的

7、液體可以做SEM/EDX分析其中雜質顆粒的元素嗎

國內做SEM一般用鎢針尖去掃光滑固體表面，然後得電壓。做液體的話，我覺得有以下幾個問題：1.由於鎢上面有偏壓，若分析的雜志帶電或有極性就沒法測了（會通電的） 2.如果掃液體表面會由於表面張力是液體吸附上去 3.在液體內部測試的話，你得測那些無極性的大雜質顆粒，但這樣容易碰壞針尖，針尖一般只有幾個原子。 反正我覺得沒法測。 EDX這個我不清楚，似乎是可以的。 你是不是吧SEM看錯了，是SERS（表面增強拉曼）吧。

8、油墨測試rohs是固體測試還是液體測試

這是一個很專業性的問題，一般測試的話都需要建立一個標准，就是怎麼規避掉一些不計入回含量的一些答物質，這樣才可以去測ROHS，如果你要測的物質是液體，你只需要液態體直接進樣就可以了，但是如果是固體，如果你儀器足夠先進的話直接固體進樣就可以了，要是比較老舊的儀器，需要溶劑稀釋一下。銀箭鋁銀漿服務於廣大客戶。

9、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區別

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區別主要是名稱不同、工作原理不同、作用不同、

一、名稱不同

1、SEM，英文全稱：Scanningelectronmicroscope，中文稱：掃描電子顯微鏡。

2、TEM，英文全稱：，中文稱：透射電子顯微鏡。

3、XRD，英文全稱：Diffractionofx－rays，中文稱：X射線衍射。

4、AES，英文全稱：AugerElectronSpectroscopy，中文稱：俄歇電子能譜。

5、STM，英文全稱：ScanningTunnelingMicroscope，中文稱：掃描隧道顯微鏡。

6、AFM，英文全稱：AtomicForceMicroscope，中文稱：原子力顯微鏡。

二、工作原理不同

1．掃描電子顯微鏡的原理是用高能電子束對樣品進行掃描，產生各種各樣的物理信息。通過接收、放大和顯示這些信息，可以觀察到試樣的表面形貌。

2．透射電子顯微鏡的整體工作原理如下：電子槍發出的電子束經過冷凝器在透鏡的光軸在真空通道，通過冷凝器，它將收斂到一個薄，明亮而均勻的光斑，輻照樣品室的樣品。通過樣品的電子束攜帶著樣品內部的結構信息。通過樣品緻密部分的電子數量較少，而通過稀疏部分的電子數量較多。

物鏡會聚焦點和一次放大後，電子束進入第二中間透鏡和第一、第二投影透鏡進行綜合放大成像。最後，將放大後的電子圖像投影到觀察室的熒光屏上。屏幕將電子圖像轉換成可視圖像供用戶觀察。

3、x射線衍射（XRD）的基本原理：當一束單色X射線入射晶體，因為水晶是由原子規則排列成一個細胞，規則的原子之間的距離和入射X射線波長具有相同的數量級，因此通過不同的原子散射X射線相互干涉，更影響一些特殊方向的X射線衍射，衍射線的位置和強度的空間分布，晶體結構密切相關。

4．入射的電子束和材料的作用可以激發原子內部的電子形成空穴。從填充孔到內殼層的轉變所釋放的能量可能以x射線的形式釋放出來，產生特徵性的x射線，也可能激發原子核外的另一個電子成為自由電子，即俄歇電子。

5．掃描隧道顯微鏡的工作原理非常簡單。一個小電荷被放在探頭上，電流從探頭流出，穿過材料，到達下表面。當探針通過單個原子時，通過探針的電流發生變化，這些變化被記錄下來。

電流在流經一個原子時漲落，從而非常詳細地描繪出它的輪廓。經過多次流動後，人們可以通過繪制電流的波動得到構成網格的單個原子的美麗圖畫。

6．原子力顯微鏡的工作原理：當原子間的距離減小到一定程度時，原子間作用力迅速增大。因此，樣品表面的高度可以直接由微探針的力轉換而來，從而獲得樣品表面形貌的信息。

三、不同的功能

1．掃描電子顯微鏡（SEM）是介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察方法，可以直接利用樣品表面材料的材料性質進行微觀成像。

掃描電子顯微鏡具有高倍放大功能，可連續調節20000～200000倍。它有一個大的景深，一個大的視野，一個立體的形象，它可以直接觀察到各種樣品在不均勻表面上的細微結構。

樣品制備很簡單。目前，所有的掃描電鏡設備都配備了x射線能譜儀，可以同時觀察微觀組織和形貌，分析微區成分。因此，它是當今非常有用的科學研究工具。

2．透射電子顯微鏡在材料科學和生物學中有著廣泛的應用。由於電子容易散射或被物體吸收，穿透率低，樣品的密度和厚度會影響最終成像質量。必須制備超薄的薄片，通常為50～100nm。

所以當你用透射電子顯微鏡觀察樣品時，你必須把它處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對於液體樣品，通常掛在預處理過的銅線上觀察。

3X射線衍射檢測的重要手段的人們意識到自然，探索自然，尤其是在凝聚態物理、材料科學、生活、醫療、化工、地質、礦物學、環境科學、考古學、歷史、和許多其他領域發揮了積極作用，不斷拓展新領域、新方法層出不窮。

特別是隨著同步輻射源和自由電子激光的興起，x射線衍射的研究方法還在不斷擴展，如超高速x射線衍射、軟x射線顯微術、x射線吸收結構、共振非彈性x射線衍射、同步x射線層析顯微術等。這些新的X射線衍射檢測技術必將為各個學科注入新的活力。

4，俄歇電子在固體也經歷了頻繁的非彈性散射，可以逃避只是表面的固體表面原子層的俄歇電子，電子的能量通常是10～500電子伏特，他們的平均自由程很短，約5～20，所以俄歇電子能譜學調查是固體表面。

俄歇電子能譜通常採用電子束作為輻射源，可以進行聚焦和掃描。因此，俄歇電子能譜可用於表面微觀分析，並可直接從屏幕上獲得俄歇元素圖像。它是現代固體表面研究的有力工具，廣泛應用於各種材料的分析，催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。

5．當STM工作時，探頭將足夠接近樣品，以產生具有高度和空間限制的電子束。因此，STM具有很高的空間解析度，可以用於成像工作中的科學觀測。

STM在加工的過程中進行了表面上可以實時成像進行了表面形態，用於查找各種結構性缺陷和表面損傷，表面沉積和蝕刻方法建立或切斷電線，如消除缺陷，達到修復的目的，也可以用STM圖像檢查結果是好還是壞。

6．原子力顯微鏡的出現無疑促進了納米技術的發展。掃描探針顯微鏡，以原子力顯微鏡為代表，是一系列的顯微鏡，使用一個小探針來掃描樣品的表面，以提供高倍放大。Afm掃描可以提供各類樣品的表面狀態信息。

與傳統顯微鏡相比，原子力顯微鏡觀察樣品的表面的優勢高倍鏡下在大氣條件下，並且可以用於幾乎所有樣品（與某些表面光潔度要求）並可以獲得樣品表面的三維形貌圖像沒有任何其他的樣品制備。

掃描後的三維形貌圖像可進行粗糙度計算、厚度、步長、方框圖或粒度分析。