電子顯微鏡sem

1、電子顯微鏡 SEM 的指示燈的意思？

可能你還沒有機會接觸更深，也就是說還沒有機會上手操作，否則一定需要培訓，簡單培訓過後，這些都必須知道，否則連開關機都不會。
雖然不同型號標識會略有不同，但通過意思還能判斷的：
Power--電鏡主機的電源開關
Air-- 基本是指泄真空，往真空室放氣，這樣才可以打開樣品倉，或者電子槍室等。
掃描電鏡是高真空系統，一般是由兩級或者三級真空泵串聯組成，通過真空閥門和真空測量器件共同進行自動邏輯控制。
START UP -- 開始抽真空 ：第一次開機，更換樣品後都需要重新抽真空，現在一般都是在軟體中控制。軟體中本身有指示燈，過去都在主機上用LED燈顯示。只要保持抽真空狀態，這個等一直亮。按AIR按鈕後，真空泵停止運轉，這個燈會滅。
SHUT DON-- 關機，不泄漏真空，但真空泵停止運轉，可以關閉總電源，保持電鏡真空腔體處於真空狀態。
R.P，Ratary Pump 縮寫，是前級泵，叫做旋片式機械真空泵，最高這空度0.1Pa，一般需要將真空室從大氣壓抽到10pa 以下。一般掃描電鏡抽真空時間設計在3分鍾以內。
M.P ，Molecular Pump縮寫，是二級泵，叫做分子泵，必須在氣體的分子流下工作，啟動真空度在10pa 以下。
也不知道你接觸的設備是哪個年代的，當前新設備基本都不用真空表，直接是數字顯示實際真空度。
總之都是一個意思，估計你的設備比較老。
真空表0-10之間，0代表大氣，10代表高真空，高壓電源允許打開的真空度（高壓電源是有真空保護裝置的，真空達不到，好的電鏡都會自動鎖住高壓電源開關，萬一真空泄露，也會自動關閉高壓電源）。
剛開機的時候，是因為真空室內的腔體處於一定真空狀態，不是從大氣開始抽的，表指示的是初始真空度，如果打開樣品室，更換樣品後再重新抽真空，就是從0開始了。

2、掃面電子顯微鏡sem分析主要做什麼 知乎

可以用來觀察精密物品表面形貌，可以分析元器件原子成分 比例。
比如可以做元器件失效分析

3、電子顯微鏡分析（TEM and SEM）是指?

?

4、掃描電鏡SEM和透射電鏡TEM的區別

掃描電鏡，是觀察樣品表面的結構特徵；
透射電鏡，是觀察樣品的內部精細結構。

5、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆 粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發射的能量為 5 ～ 35keV 的電子，以其交 叉斑作為電子源，經二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束，在掃描線圈驅動下，於試樣表面按一定時間、空間順 序作柵網式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產生二次電子發射（以及其它物理信號），二次電子發射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號被探測器收集 轉換成電訊號，經視頻放大後輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。

示意圖：
http://www.science.globalsino.com/1/images/1science9682.jpg

6、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(6)電子顯微鏡sem擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

7、掃描電鏡（SEM）測試是怎麼收費的

掃描電鏡（SEM）測試各地不一樣的，最少的也要幾百塊啊