sem測元素為什麼都有c

1、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(1)sem測元素為什麼都有c擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

2、CVD鍍層為什麼測出來的元素是C和O

CVD塗層和來PVD塗層源的使用區分： CVD塗層 1.刀尖溫度高的加工。 2.高速加工、高進給加工、高切深加工。 3.加工量大的加工。 4.連續加工有效，車刀片使用居多 。 PVD塗層 1.精加工精度高的加工。 2.加工易熔敷需要鋒利刀刃的工件。 3.微小加工、低進給加工。 4.斷續加工有效，銑刀片使用較多。塗層的作用 1.增加刀具耐磨性，延長刀具壽命。 2.提高刀具表面抗氧化溫度，提高加工效率。 3.提高刀具摩擦系數，改善工件表面光潔度。

3、sem掃描的時候會出現元素分析嗎

如果是即將開始學習儀器操作的管理人員,建議先系統學習理論知識,再找專業的儀器工程師培訓.如果是學生,要使用電鏡,從安全形度考慮,1、2、3幾項通常是值機人員完成的.我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源,只要能正常開機,一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空,否則氣體電離度大、損傷電子槍,但是電鏡軟體一般都已經設置好,不到工作真空,根本加不上去高壓,所以只要能夠加高壓,也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓,等30秒以上,待燈絲冷卻後再放氣為宜,主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離,包括平面方向和上下方向,平面方向移動到極限時會有報警提示,看到提示往回移動即可.高度方向也如此,但是要注意向上移動時,要緩慢,要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴,損壞設備；4,電子束與試樣作用,可激發出多種信號,如二次電子信號（用於形貌觀察）,背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究）,這些信號已經被有效的加以利用,這是一門獨立的學科,若需要詳細了解,你需要系統地學習一下.

4、為什麼C元素材料都有優異性能？

C元素材料都來有優異性自能，是因為C具有如下特性：
1）有四個成鍵電子，可以以SP1，SP2，SP3等多種雜化方式成鍵。可以形成直線、片狀、體型等各種結構。分別對應著碳纖維、碳納米管、足球烯、石墨烯、金剛石。
2）C-C鍵比較短，鍵能高，非常穩定。

5、EDX為什麼檢測不出鋼鐵中的C元素

一般的能量色散熒光譜儀的測量對象主要是中高序數元素，對於輕元素的內測量需要專門的設計，容因為空氣中存在C，O等元素，考慮到對定量分析過量干擾及對熒光的吸收，所以要想測輕元素需要真空環境，也就是將樣品放入後需要專門的抽氣機將其抽成真空，故用作測量輕元素的EDXRF體積較大，一般攜帶不便。單是也有人開發出這種功能的探測器，據我所知成都理工大學有一篇碩士畢業論文就是輕元素EDXRF設計，他還製作出了樣品機。一般攜帶型的都沒有測輕元素的功能。

6、sem掃描電鏡下只有C,N,O,怎麼解釋

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7、為什麼我的樣品滴到矽片上測sem能譜還是能檢測到碳

SEM掃描電鏡掃描電鏡制備品品溶解用溶溶劑進行散鋪雲母片或者矽片溶劑晾乾或烘乾再測

8、細胞的化學元素中為什麼C，H，O元素最多

細胞是有機物，有機物種都有C元素；細胞中含量最多的是水，水是由H和O兩種元素組成的。所以，細胞的化學元素中為C，H，O元素最多。