為什麼材料做SEM消失

1、有誰做過碳化硅陶瓷的表面腐蝕? （為了做SEM 看材料的晶粒）

拋光後的SiC樣品，置於沸騰的Murakami溶液中進行腐蝕。Murakami溶液：10gKOH+10gK3[Fe(CN)6]+100mlH2O

2、SEM薄膜樣品如何減少基底材料信號干擾

SEM做測試的時候採用比較低的場發射電壓或者比較低的電子加速電壓，比如用2kV試試看。

或者噴金的時候考慮適當的將金層加厚

3、鐵氧體永磁材料做SEM時，需要注意什麼啊？

原文由fengyonghe(fengyonghe)發表:掃描電鏡的試樣即使是弱磁性的都不能做，更何況是鐵氧體永磁材料。電子束被試樣磁場偏轉，會產生意想不到的結果。樣品室可能被磁場污染。

4、高分子材料測sem可以不用脆斷嗎

高分子材料測sem可以不用脆斷
XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。

5、sem和tem都可以用來分析材料的顯微結構，其原理和應用特性各有什麼迥異

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金裡面的相成分和含量,可以測定晶格參數,可以測定結構方向、含量，可以測定材料的內應力，材料晶體的大小等等。一般主要是用來分析合金裡面的相成分和含量。
樣品制備：
通常定量分析的樣品細度應在1微米左右，即應過320目篩。
SEM是利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。

6、哪位大俠知道看SEM時把材料分散在什麼溶液中比較好？

sem的結果與分散無關，粉末就可以做，沒必要分散

7、材料只做sem不做xrd可以嗎

?

8、電鏡分析結果為什麼得到的不是納米材料，而是微米級別的

求教二氧化鈦SEM圖分析.

納米材料為什麼SEM單位是μm啊 這得多啊!

順便幫忙分析分析這個圖謝謝 答的好的加分

掃描電鏡作為材料分析上一種常用的儀器,它的主要目的還是觀察你做出的材料形貌.因為你說是納米材料,其實納米材料不一定只有幾個納米,我印象里幾十甚至上百納米的都可以叫做納米材料.你這個圖里的微米單位,應該是給你一個量度,好像就跟地圖上的比例尺差不多.
你這個圖主要還是根據SEM的圖來表徵下你所做出的納米材料的特性,比如材料呈球形,尺寸在多少個納米之間,材料顆粒之間有沒有團聚現象之類的.

9、陶瓷材料做SEM時為了看清晶粒生長情況，要先進行熱處理，熱處理溫度一般比燒結溫度低多少？非常感謝！

不同溫度下晶粒生長情況不同的，一般要查看燒結後晶粒狀況的話，要以燒結溫度進行熱處理。如果要查看晶體隨溫度變化的情況，您可以用不同溫度對樣品進行熱處理，然後分別送樣，這樣才能體現晶體生長隨溫度變化的情況。不過這樣做很費錢。可以考慮做差熱。

10、拍SEM照片，材料噴過金的表面如何去除？

鍍上去的金和你的材料幾乎是沒有什麼結合力的。 一擦就下來了。