1、如何實現全面的矽片檢測
Hall效應測試系統、基於汞探針的CV測試儀、橢偏儀、掃描電子顯微鏡
2、聚合物想測SEM，如何製作樣品？
既然是看膜，就需要樓主決定要看自然狀態下的膜，還是製品的膜形貌了，製品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的導電膠帶上，處理方式和之前回答你的一樣，噴金、引導電膠。
3、納米材料在測SEM時要怎麼分散的更好些？
對於零維和一維納米材料，SEM觀察時需要分散。一般使用有機溶劑加分散劑，超聲波分散，離心沉澱後用吸管取上清液，滴在干凈的矽片或載玻片上，乾燥後用導電膠帶粘取。
具體沉澱時間或離心機的參數，需要多做幾次試驗，針對不同的材料特點，選擇好的條件。
4、拋光矽片可以最SEM基底嗎
很多納米管、線等都是在類似的基體上生長，然後直接SEM觀察。
換句話說，只有納米材料才會考慮用拋光矽片做樣品載台。微米亞微米級別的，浪費，直接雙面導電膠帶粘即可。
5、請問有做過矽片的嗎？怎麼弄斷裂測斷面SEM？
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6、矽片表面的粗糙度怎樣測量
電容法，根據不同的sawmark可以將矽片分成A/B/C級片
7、為什麼我的樣品滴到矽片上測sem能譜還是能檢測到碳
SEM掃描電鏡掃描電鏡制備品品溶解用溶溶劑進行散鋪雲母片或者矽片溶劑晾乾或烘乾再測
8、矽片都做那幾個方面的檢測？？
檢測矽片尺寸
檢測單晶矽片的破損程度，並進行分級：
破損小於30mm，能夠切成6英寸Wafer；
破為兩片，無法使用；
沒有破損；
矽片尺寸156*156mm；
檢測速度要求：1.5秒/片；
動作流程：矽片運動到檢測位置後，相機快速拍照，然後進行處理，在這個過程中設備不停；
矽片運動速度：約150mm/s；