1、聚合物薄膜材料，觀察其斷截面，怎麼樣制備SEM樣品？說詳細點
我這邊做一般採取如下兩種方案：
1.用手術刀片切，然後貼在電鏡檯子上；
2。快速冷凍，然後粉碎，分散在導電膠帶上。
2、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序？
XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。
3、我做的薄膜SEM與XRD試驗，圖片與數據不會分析，跪求准確分析？
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4、怎麼用SEM看薄膜截斷面
針對怎麼用SEM看薄膜截斷面來回答：
獻峰科技指出：在Si片上鍍一層非晶碳膜（厚度為幾十個nm，導電性能較差），用金剛石刀直接切割出試樣，然後進行SEM觀察，希望得到薄膜的厚度。
第一次去做時表面沒有噴金，看到的斷面效果也很差，很難清楚的看到薄膜與基體的分界面。
希 望 采 納 不 足 可 追 問
5、如何用SEM看ZnO薄膜
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6、磁控濺射做的薄膜能用SEM測試嗎
可以的 不過做SEM的時候最好用導電或者半導體材料作為基底 如果用glass非導電基底要加上導電膠 而且容易在表面產生電荷看不清楚的
7、求助制備薄膜的SEM截面的問題
對了，還有一種是針對液體樣品的，快速冷凍法，簡單說就是液體樣品放在液氮中快速冷凍，通過特殊的裝置，轉移到過渡艙中，再噴金，再轉入觀察倉。以上三種制備方法基本就全了。這個還需要你多多練習，基本方法就是這些。
8、SEM薄膜樣品如何減少基底材料信號干擾
SEM做測試的時候採用比較低的場發射電壓或者比較低的電子加速電壓，比如用2kV試試看。
或者噴金的時候考慮適當的將金層加厚