1、SEM 可以測成分嗎
這個是可以測成分的，牛津儀器納米分析部推出了可以在SEM里測量薄膜成分和厚度軟體系統ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS測量薄膜結構的成分和厚度。 這項技術是唯一基於SEM和EDS薄膜分析系統。
2、掃描電鏡（SEM）能測出晶型嗎
理論上單純用SEM不能測出晶型，測晶型一般用XRD等儀器。掃描電鏡只能觀察形貌，解析度可達亞微米級別。
不過對於特定的樣品，如果具有明確的晶型，藉助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一種物質只有區別明顯的兩種晶型，藉助確定的形貌可以推斷是那種晶型）。另外，SEM通過加裝EBSD附件，通過觀察也有可能觀察晶型
3、掃描電鏡（SEM）測試是怎麼收費的
掃描電鏡（SEM）測試各地不一樣的，最少的也要幾百塊啊
4、請問SEM可以測液體嗎？
我做過一些次SEM的液體樣品，不過都是把液體樣品放在樣品盤上烘乾之後，噴金，然後再做測試的，一般的 ，一點樣品就夠了，很少的計量 ，但是還是看濃度吧 ，我們的儀器不好，一般都是拿到理化分析中心測的
5、sem掃描電鏡測量需要多長時間
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6、納米材料在測SEM時要怎麼分散的更好些？
對於零維和一維納米材料，SEM觀察時需要分散。一般使用有機溶劑加分散劑，超聲波分散，離心沉澱後用吸管取上清液，滴在干凈的矽片或載玻片上，乾燥後用導電膠帶粘取。
具體沉澱時間或離心機的參數，需要多做幾次試驗，針對不同的材料特點，選擇好的條件。