1、SEM—Electronic Microscope to examine specimens at higher magnifications,
失敗分析
SEM-電子的仔細檢查在較高的擴大調查樣品,
與 EDX 對分析元素作文動作。
山姆-聽覺的顯微鏡在它的能力是無比的弄臟薄片
裂縫和其他的反常事物非毀滅性地; 而且位於區域發現。
FTIR-分析在塗料，電子的成份中的有機化學的材料,有機的, 油漆、聚合體,樹脂等等
離子套色版-愛爾尼亞的分析和可電離化表面的測量在電路板的污染物。
X光-BGA 對準的檢驗, 成份弄碎。
微跨區段-Materialographic & 微跨區段考試
而且分析化學的 Decapsulation-概觀那在中間-電子包裝產品構成。
Ersascope 檢驗-調查 BGA, SMT & PTH 焊接劑關節
2、. Data are shown in mean +/-SEM.Difference is considered significant at P<0.05. 怎麼翻譯？？
數據以+/-SEM的平均值顯示。差值在P<0.05時有意義。
3、掃描電鏡sem原子相對含量At%計算
1、全部都是用各元素的K層電子（即1s）的X-射線熒光強度作為計算依據；
2、有兩種計算方案：質量百分含量和原子數百分含量（判斷化學式組成時很有用）。