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純鋁的sem圖像

發布時間:2020-11-18 21:04:15

1、純鋁和鋁合金的區別是什麼

一、性質不同

1、鋁合金:工業中應用最廣泛的一類有色金屬結構材料。

2、純鋁:銀白內色輕容金屬。

二、特性不同

1、鋁合金:鋁合金密度低,但強度高,接近或超過優質鋼,塑性好,可加工成各種型材。它具有優良的導電性、導熱性和耐腐蝕性。它在工業上應用廣泛,用途僅次於鋼鐵。某些鋁合金經熱處理後,可獲得良好的力學性能、物理性能和耐腐蝕性能。

2、純鋁:溶於稀硫酸、稀硝酸、鹽酸、氫氧化鈉、氫氧化鉀溶液中,不溶於水,但能與熱水緩慢反應生成相對密度為2.70,彈性模量70Gpa,泊松比0.33。熔點660℃。沸點2327℃。



三、應用不同

1、鋁合金:鋁合金可用於飛機蒙皮、橫梁、肋骨、桁架、隔板和起落架。飛機根據用途使用不同數量的鋁。由於鋁合金價格低廉,以經濟效益為重點的民用飛機得到了廣泛的應用。例如,波音767客機使用的鋁合金約占機身重量的81%。

2、純鋁:鋁在電器製造工業、電線電纜工業和無線電工業中有廣泛的用途。

2、SEM中Ni和Al2O3區分?

10nm非常小了,一般情況下FE-SEM不會用來觀測10nm左右納米顆粒的微觀結構的~還有,SEM是二次電子成像,由於二次電子的產額隨原子數的變化不大,所以得到的SEM圖像中Contrast不怎麼明顯。所以我覺得你應該用TEM來表徵你做的這個樣品,在TEM圖像中,Ni的顏色比Al2O3的暗,如果條件允許的話,做HRTEM或者EDX就更能准備表徵你樣品中的黑色納米顆粒是Ni了~~~

3、關於SEM 圖象清晰的問題

有可能是使用這台機的環境不好,不如噪音,震動。我以前也遇到過這樣的情況,後來去買一台防震台,問題就解決了。你可以根據自己實驗的精度選擇防震台,國外的性能高,有Herz的比較好。我們就是買的這個,不過價錢比國產高。具體的你可以找岱美有限公司咨詢一下。希望對你有幫助!

4、用SEM看鋁合金析出相,需要腐蝕嗎?SEM什麼時候要腐蝕?謝謝!

SEM主要優勢是觀察粗糙的原始表面,一般無需對樣品表面進行特殊處理,在微區屬於無損分析。
如果看金相,需要從形狀形貌上來鑒別是什麼相,肯定需要腐蝕,因為SEM成像,需要有確切的形貌存在,例如鏡面拋光後,圖像沒有形貌反差,也就無從鑒定相。有時候看夾雜物則無需腐蝕,鏡面拋光後,直接使用BSE信號成像,會清晰的表現Z反差。但一般的Z反差和相反差並不完全相符。

5、怎樣鑒別鋁合金和純鋁

可以用以下方法鑒定鋁合金和純鋁;

1、看硬度。用小刀在鋁合金和純鋁上分別劃幾下,花很明顯的是純鋁。因為鋁合金經過熱加工處理,有較高的強度,而純鋁質地比較軟。

2、用儀器檢測成分。如光譜、SEM、熒光等。鋁合金裡面含有鐵、銅、錳、鎂等元素,而純鋁是純凈物,只有鋁元素。

3、加熱後淬火處理。觀察淬火後表面顏色,變色明顯,發灰或者發黑的是鋁合金,因為有Cu元素的存在。

4、測熔點的大小。使用專業儀器檢測兩者的熔點,熔點高的是純鋁,熔點低的是鋁合金。因為熔點的高低由同一種金屬原子間金屬鍵結合能力決定,作用力強,熔點高;當外來原子進入該晶體的時候,金屬鍵遭到破壞,金屬內部出現排列混亂的狀態,這時整體金屬內能增大,導致熔點降低。

5、測密度。檢測兩者的密度,純鋁的密度是ρ=2.7g/cm3,而鋁合金的密度介乎於合成的純金屬之間,不是2.7g/cm3。

6、SEM掃描電鏡圖怎麼看,圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率:

與普通光學顯微鏡不同,在SEM中,是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以,SEM中,透鏡與放大率無關。

2、場深:

在SEM中,位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深,通常為幾納米厚,所以,SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積:

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用,它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用,所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離:

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離,可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離,則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象:

次級電子和背散射電子可以用於成象,但後者不如前者,所以通常使用次級電子。

6、表面分析:

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關,所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層(參見作用體積),所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用,所用到的探測器有兩種:能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高,後者非常精確,可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法:

如果圖像是規則的(具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶),則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,將其他部分遮蔽使重新衍射,則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(6)純鋁的sem圖像擴展資料:

SEM掃描電鏡圖的分析方法:

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中,有時因為背景干擾嚴重,只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系,所以將電鏡像用光度計掃描,使各點的濃淡數值化,將之進行傅立葉變換,便可求出衍射像〔衍射斑的強度(振幅的2乘)和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換,則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描,激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像,獲得測試試樣表面形貌的觀察。

7、如何獲得清晰的掃描電鏡(SEM)圖像

1、制樣:成功制備出所要觀察的位置,樣品如果不導電,可能需要鍍金
2、環境:電鏡處在無振動干擾和無磁場干擾的環境下
3、設備:電鏡電子槍仍在合理的使用時間內
4、拍攝:找到拍攝位置,選擇合適距離,選擇合適探頭→對中→調像散→聚焦,反復操作至最清晰

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