1、SEM EDS相對質量分析
你當然可以這么做，只是誤差比較大。
實際一般情況我們只需要知道相對量就好了，並不需要這么精確的數值。
如果確實需要精確數值，那需要標定，畢竟不同元素的響應值區別還是很大的。
實際上，你的ZSM-5的硅鋁比就能驗證，SEM數值跟化學法數值差距還是很大的；但這並不妨礙很多人直接用SEM數據表徵他們樣品的硅鋁比
2、EDS分析求助
1. 可以。無論是SEM還是TEM均可，只是多數情況下，EDS採用無標樣定量，定量分析結果是半定量的，不能作為決斷性證據，而只能做其他表徵手段的support information。分析方法很簡單，EDS能譜都有直接定量分析的功能，為了准確，你可以多點分析（大於20個點），取平均值。2. 一個點的分析區域對於通常的SEM區域是以電子束束斑為大小的圓斑，往下是一個梨形擴展區，通常會有幾個立方微米的空間，但如果只是一個單分散的納米顆粒，下面沒有其他干擾，分析區域可以准確到電子束斑大小。對於TEM，則和後面的那種情況相同。順便說一下：在EDS採集樣品信息時，一般建議用取點分析，而不是取框，因為如果不做設定，通常一個點的分析時間和一個框的總分析時間相同，那麼一個框的分析時間平均到每個區域點，會使采樣時間極其短暫，從而影響定量結果的准確性（信號量不足會影響少量元素組分的定量）。
3、SEM+EDS分析是什麼意思啊? 全稱是什麼?
SEM(scanning electron microscope)：掃描式電子顯微鏡
EDS（Energy Dispersive Spectrometer）：X光微區分析
4、如何利用掃描電鏡對粉體材料進行能譜分析?
直接往顆粒表面，你感興趣的地方打！
如果你想測試平均成分，你選錯設備了！
5、請大家幫忙推薦幾本關於掃描電鏡+EDS進行異物分析的書籍，日語或英語的也行
在谷歌上搜一搜，英文的不少。國內張大同著，掃描電鏡能譜應用值得看看，很容易搜到。
這些作者都是具有深厚材料科學知識背景，將一般通用的應用技術分享給大家。
關於你們的具體分析方向，我從這個角度講一下：分析儀器用於分析某個非常具體的分析項目，往往需要花費很多功夫，研究分析方法，這個分析方法是可以注冊專利的。要你說，別人會隨便告訴你嗎？很多時候，跨國企業研究中心，有什麼儀器都不輕易告訴你，更不要提分析方法了。
---我從廠商應用工程師的角度【酷塞目-中國 馳奔】看這個問題。培訓都是一般應用分析方法。
---你們的項目有點類似掃描電鏡能譜在刑偵方面，槍擊殘留物分析；也類似潔凈鋼技術里的夾雜物分析；也類似礦石中不同礦物含量分析；嚴格的說，你們的分析屬於潔凈度分析。這些領域應用非常狹窄，具備這些深厚專業背景的人，將分析方法做成軟體，將其結合到電鏡能譜系統中，就能成立公司，來賣這個產品。
6、sem-eds 分析元素 只是表面的嗎
eds是一種表面微區分析的表徵手段，它的作用深度大概是樣品表面1微米左右
7、SEM+EDS分析是什麼意思
S
8、掃描電鏡和透射電鏡的EDS對分析樣品的成分有什麼不同？
SEM TEM 都是主要用來分析形貌。他兩相比較TEM的解析度要高於SEM。TEM給出的是一個平面圖，可以告訴你樣品的形貌特這，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌結構的，給出的是立體圖，對觀察棒狀，球狀，等等材料材料有很好的視覺效果。EDS是分析成分的，一般是配套於TEM儀器上。它分析的是樣品表面面某個小的部分的元素組成，不能代表樣品整體組成。