1、掃描電鏡SEM/EDX測試的井深是多少？
````
應該是景深吧``
焦深計算公式
L= ±[(r/M)-d]/2α 其中：
L: 焦深
r: 顯像管最小分辨距離
M：放大倍數
d：入射電子束直徑
2α：物鏡孔徑角。
從上面的式子可以看出影響焦深的因素，其中隱含了工作距離w。物鏡孔徑角與工作距離和入射電子束直徑有關。由於r（顯像管的解析度）和2α都是未知數，實際上不能計算。焦深也只是個人的視覺感受，還是直觀的測量一下為好。
又查了資料``顯像管最小分辨距離為0.22mm-0.3mm, 孔徑角的典型數值為10-2—10-3rad.利用公式L= ±[(r/M)-d]/2α可以計算出在有效放大倍率下的焦深數據。設d=3納米，孔徑角2α=10-2 rad，r=0.3mm。計算焦深如下：
1000倍下為59.4微米。5000倍下為11.4微米。10000倍下為5.4微米。超過100000倍已經超過了有效放大倍率。不能計算。
2、掃描電鏡（SEM）測試是怎麼收費的
掃描電鏡（SEM）測試各地不一樣的，最少的也要幾百塊啊
3、SEM 可以測成分嗎
這個是可以測成分的，牛津儀器納米分析部推出了可以在SEM里測量薄膜成分和厚度軟體系統ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS測量薄膜結構的成分和厚度。 這項技術是唯一基於SEM和EDS薄膜分析系統。
4、如何在SEM圖像中測量納米線的直徑與長度
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5、請問SEM可以測液體嗎？
我做過一些次SEM的液體樣品，不過都是把液體樣品放在樣品盤上烘乾之後，噴金，然後再做測試的，一般的 ，一點樣品就夠了，很少的計量 ，但是還是看濃度吧 ，我們的儀器不好，一般都是拿到理化分析中心測的