1、聚合物薄膜材料，觀察其斷截面，怎麼樣制備SEM樣品？說詳細點
我這邊做一般採取如下兩種方案：
1.用手術刀片切，然後貼在電鏡檯子上；
2。快速冷凍，然後粉碎，分散在導電膠帶上。
2、請教：關於聚合物TEM染色的問題
GPC：測試高分子的分子量及分子量分布指數 SEM/TEM/AFM：表徵材料的表面形貌(注意原理不同) FTIR：定性分析高分子含有的基團 NMR：定量分析聚合物的結構 UV-vis：可定量計算共聚物單體的個數 Dls：表徵高分子溶液粒徑 Lls：表徵高分子溶液分子量。
透射電鏡（TEM）的放大倍數要比掃描電鏡（SEM）的高,當然兩則的成像原理也是不同的,如果需要觀察納米顆粒在聚合物中的分散情況,你就必須要用TEM來觀察了,SEM通常看材料的缺口斷面,當然還有許多其他應用.\x0dSEM是電子束激發出表面次級電子,而TEM是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以TEM樣品要求很薄,只有幾十nm, TEM一般放大能達幾百w倍,而SEM只有幾萬倍.\x0d掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個能譜儀,可以進行能譜掃描.其放大倍數相對較低,操作方便,樣品製作簡單,對於高聚物,須進行噴金處理 TEM則可以觀看樣品的內部結構,粒子的分散等.其放大倍數高於SEM,但也不是絕對,現在有些掃描電鏡的放大倍數也可以很高.其操作較復雜,樣品製作也較為煩瑣
3、30nm聚合物納米顆粒sem能不能拍清楚
一種是統計學方法，通過統計TEM或SEM視野內顆粒的粒徑得到一個統計值；另外一種方法是計演算法，利用XRD表徵數據可以計算出來粒徑的平均大小。
4、聚合物想測SEM，如何製作樣品？
既然是看膜，就需要樓主決定要看自然狀態下的膜，還是製品的膜形貌了，製品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的導電膠帶上，處理方式和之前回答你的一樣，噴金、引導電膠。