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sem主要研究聚合物的那些性質

發布時間:2020-11-08 17:16:32

1、請教:關於聚合物TEM染色的問題

GPC:測試高分子的分子量及分子量分布指數 SEM/TEM/AFM:表徵材料的表面形貌(注意原理不同) FTIR:定性分析高分子含有的基團 NMR:定量分析聚合物的結構 UV-vis:可定量計算共聚物單體的個數 Dls:表徵高分子溶液粒徑 Lls:表徵高分子溶液分子量。
透射電鏡(TEM)的放大倍數要比掃描電鏡(SEM)的高,當然兩則的成像原理也是不同的,如果需要觀察納米顆粒在聚合物中的分散情況,你就必須要用TEM來觀察了,SEM通常看材料的缺口斷面,當然還有許多其他應用.\x0dSEM是電子束激發出表面次級電子,而TEM是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以TEM樣品要求很薄,只有幾十nm, TEM一般放大能達幾百w倍,而SEM只有幾萬倍.\x0d掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個能譜儀,可以進行能譜掃描.其放大倍數相對較低,操作方便,樣品製作簡單,對於高聚物,須進行噴金處理 TEM則可以觀看樣品的內部結構,粒子的分散等.其放大倍數高於SEM,但也不是絕對,現在有些掃描電鏡的放大倍數也可以很高.其操作較復雜,樣品製作也較為煩瑣

2、聚合物共混的形態

你說的應該是聚合物共混物的「微觀」形態結構吧?宏觀的,就自己眼睛看。。
一般微觀結構用的比較多的是SEM和TEM(就是掃描電鏡和透射電鏡),如果還不行還可以用相差電鏡或者原子力(AFM)。
一般SEM最常用,共混之後壓片,如果看內部結構,在液N中淬斷,SEM看斷面形態。如果看錶面就直接後壓片後看。看SEM一般都要先噴金。原理我就不想說了,自己去搜吧,二次電子。。。。了解了原理其實也沒什麼幫助。
SEM一般看聚合物填充粒子之類的東東。只不過有些時候SEM看不出來什麼東西,比如兩種聚合物有兩相結構之類,這時可以用TEM,做超薄切片,然後染色,看兩相形態。也可以用相差,如果兩相硬度差別很大,也可以用AFM。只不過AFM制樣要求很高,聚合物一般表面做不到這么平。

3、聚合物薄膜材料,觀察其斷截面,怎麼樣制備SEM樣品?說詳細點

我這邊做一般採取如下兩種方案:
1.用手術刀片切,然後貼在電鏡檯子上;
2。快速冷凍,然後粉碎,分散在導電膠帶上。

4、30nm聚合物納米顆粒sem能不能拍清楚

一種是統計學方法,通過統計TEM或SEM視野內顆粒的粒徑得到一個統計值;另外一種方法是計演算法,利用XRD表徵數據可以計算出來粒徑的平均大小。

5、有機聚合物多孔材料的SEM制樣.求助

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6、聚合物想測SEM,如何製作樣品?

既然是看膜,就需要樓主決定要看自然狀態下的膜,還是製品的膜形貌了,製品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜,可以直接用聚合物膜粘在我提到的導電膠帶上,處理方式和之前回答你的一樣,噴金、引導電膠。

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