1、液體可以做SEM/EDX分析其中雜質顆粒的元素嗎
國內做SEM一般用鎢針尖去掃光滑固體表面，然後得電壓。做液體的話，我覺得有以下幾個問題：1.由於鎢上面有偏壓，若分析的雜志帶電或有極性就沒法測了（會通電的） 2.如果掃液體表面會由於表面張力是液體吸附上去 3.在液體內部測試的話，你得測那些無極性的大雜質顆粒，但這樣容易碰壞針尖，針尖一般只有幾個原子。 反正我覺得沒法測。 EDX這個我不清楚，似乎是可以的。 你是不是吧SEM看錯了，是SERS（表面增強拉曼）吧。
2、sem-eds 分析元素 只是表面的嗎
eds是一種表面微區分析的表徵手段，它的作用深度大概是樣品表面1微米左右
3、sem掃描的時候會出現元素分析嗎
如果是即將開始學習儀器操作的管理人員,建議先系統學習理論知識,再找專業的儀器工程師培訓.如果是學生,要使用電鏡,從安全形度考慮,1、2、3幾項通常是值機人員完成的.我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源,只要能正常開機,一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空,否則氣體電離度大、損傷電子槍,但是電鏡軟體一般都已經設置好,不到工作真空,根本加不上去高壓,所以只要能夠加高壓,也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓,等30秒以上,待燈絲冷卻後再放氣為宜,主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離,包括平面方向和上下方向,平面方向移動到極限時會有報警提示,看到提示往回移動即可.高度方向也如此,但是要注意向上移動時,要緩慢,要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴,損壞設備；4,電子束與試樣作用,可激發出多種信號,如二次電子信號（用於形貌觀察）,背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究）,這些信號已經被有效的加以利用,這是一門獨立的學科,若需要詳細了解,你需要系統地學習一下.
4、SEM分析時,沒有出現S元素,而在XRD中出現CaSO4，為啥？ 請幫助說明原因，謝謝
S
5、mapping分析時內部的元素可以分析出來嗎
在選擇內標元素及分析線對時,必須考慮以下幾個問題：1.內標元素含量應不隨分析元素含量的變化而變化.標樣和試樣中內標元素的含量必須相同.2.內標元素若是外加的,必須是試樣不含有或含量極少可以忽略的.3.分析線對選...