sem測量晶粒度

1、帶有孿晶的晶粒度如何測量-用截距法

同求，純銅，磷脫氧銅等熱處理後都會出現孿晶情況，晶粒測量該如何，還有晶粒長軸和短軸在晶粒尺寸區分的時候又該怎樣處理呢？求專家解答

2、晶粒度測定用什麼設備?

金相顯微鏡
X射線衍射儀

3、晶粒度和晶粒尺寸的測量

建議你認真看一下GB/T6394-2002,裡面講的十分詳細。

4、【求助】如何計算晶粒度

最好說一下你的樣品是什麼樣子的，等軸的，非等軸的都不一樣，詳細點說就是整個標准讀一下cqw007(站內聯系TA)我是做硬質合金的，怎麼測量？xufengneu(站內聯系TA)掃描截距法測量WC的晶粒度啊風雨過後(站內聯系TA)你也可以直接做一下XRD，用德拜謝樂公式應該可以計算出來，就不用量了:D:Dsunggcc(站內聯系TA)先做XRD分析，然後根據德拜謝樂公式算。有的不用自己算，可以直接得到數據。jic8417(站內聯系TA)照個X射線，用XRD分析軟體一弄就出來了。nofail(站內聯系TA)用XRD是個好辦法，不過要記得謝樂公式的使用范圍，lz的晶粒度范圍可能不在此公式內cqw007(站內聯系TA)Originally posted by xufengneu at 2010-09-14 16:54:51:掃描截距法測量WC的晶粒度啊 能說具體些嗎？sourbing(站內聯系TA)XRD分析的晶粒度准確么？至少我不認同，不如金相直觀，而且對於一個樣品，平均晶粒度是指整個視場下的平均衡量，除非你能保證晶粒度均勻，否則xrd局限性很大，況且算出來的不如直觀的。在金相顯微鏡下觀察晶粒形貌，如果是等軸的，按平均晶粒度標准上的比較法，和標准圖譜進行比較，類似幾級就是幾級，比較就是選定一個能代表整個樣品晶粒度的視場和標准圖比。如果不是等軸的，說白了就是晶粒大小差別很大，可以採用面積法或截距法來做，具體標准上有很詳細的說明。如何通過XRD測晶胞參數、晶粒度等啊

5、滲碳法測晶粒度的具體方法是什麼

回復 1# 含碳量小於0.25%碳素鋼和合金鋼,尤其是滲碳鋼採用滲碳法顯示奧氏體晶粒度.對於含碳較高的鋼不使用滲碳法,除非另有規定,滲碳試樣熱處理在930℃＋10℃,保溫6 h,必須保證獲得1 mm以上的滲碳層,滲碳劑必須保證在規定的時間內產生共析層,試樣以緩慢的速度爐冷至下臨界溫度以下,足以在滲碳層的過共區的奧氏體晶界上析出滲碳體網,試樣冷卻後切取新切面,經磨削和腐蝕,顯示出過共析區奧氏體晶粒形貌。

6、陶瓷材料做SEM時為了看清晶粒生長情況，要先進行熱處理，熱處理溫度一般比燒結溫度低多少？非常感謝！

不同溫度下晶粒生長情況不同的，一般要查看燒結後晶粒狀況的話，要以燒結溫度進行熱處理。如果要查看晶體隨溫度變化的情況，您可以用不同溫度對樣品進行熱處理，然後分別送樣，這樣才能體現晶體生長隨溫度變化的情況。不過這樣做很費錢。可以考慮做差熱。

7、金相組織的晶粒度

【001】金屬平均晶粒度測定 … GB 6394-2002
【010】鑄造鋁銅合金晶粒度測定…GB 10852-89【019】珠光體平均晶粒度測定…GB 6394-2002
【062】金屬的平均晶粒度評級…ASTM E112
【074】黑白相面積及晶粒度評級…BW 2003-01
【149】彩色試樣圖像平均晶粒度測定…GB 6394-2002
金相組織，用金相方法觀察到的金屬及合金的內部組織。可以分為：1.宏觀組織，2.顯微組織。

8、bet中測量的數據如何計算晶粒尺寸

納米材料的界面分析

物質的尺寸到了納米級別後由於表面電子能級的變化,導致納米材料具有許多奇特的性能,從而使其具備奇異性和反常性,能使多種多樣的材料改性,用途極為廣泛. 納米效應包括的表面效應，量子尺寸效應，體積效應，宏觀量子隧道效應界面相關效應等

表面效應

納米材料尺寸小.表面能高,位於表面原子占相當大的比例,隨著原子粒徑的減小,表面原子數目迅速增加,原子配位數不足和高的表面能使這些原子具有高的活性.極不穩定和容易與別的原子結合.

量子尺寸效應

能級間距隨著原子尺寸的減小而增大,當熱能磁場能和電場能比平均能級間距還小時,就會呈現和宏觀物體截然不同的特性稱為量子尺寸效應.

體積效應

當超細微粒的尺寸和波長與光波波長和的布羅意波長等物理尺寸相當或更小時,晶體周期性邊界條件被破壞,導致聲,光,電磁,熱力學等特徵方面出現一些新的變化.

宏觀量子尺寸效應

是指納米顆粒具有貫穿是累的能力，界面相關效應,納米結構材料中有大量的界面,具有反常高的擴散率,比如納米銅材料的超塑性.

納米材料是處在0.1—100nm尺寸范圍內，用肉眼和普通顯微鏡難以觀測其顯微結構。納米微粒尺寸的表徵，由於實驗手段的不一，採用的表徵技術各異，各種方法間有一定的差異。這里，我們來描述幾種表示方法。

一、X射線法

在多相催化的催化劑研究中，往往需要對催化劑的活性組分及載體進行晶粒大小測定，因為催化劑的性能如活性、選擇性、比表面積、孔容、強度及壽命等都直接與其晶粒大小有著密切的關系。在研製新催化劑制備工藝條件或對已使用過的催化劑了解其物性變化、機械強度、失活原因等，也需要考慮其晶粒大小的變化，所有這些都需要晶粒大小的測定。

電鏡觀察法測量的是顆粒度而不是晶粒度，X-射線衍射線寬法是測定顆粒晶粒度的最好方法。它具有簡便、快速和直觀的優點。當顆粒為單晶時，該法測得的是顆粒度；當顆粒為多晶時，該法測得的是組成單個顆粒的單個晶粒的平均晶粒度。

許多物質實際上是由許多細小晶體緊密聚集而成有二次聚集態，這些細小的單晶稱為一次聚集態，即晶粒。當晶粒在200nm以下，晶粒中晶面數目減少，衍射線條彌散而產生明顯的寬化，晶粒越小，衍射線條的寬化越嚴重，使衍射強度在2θ+Δθ范圍內有一個較大分布。當晶體內不存在應力和缺陷時，可以利用晶粒大小與衍射線寬化程度的關系來測量

9、截點法怎麼測量晶粒度

你可以百度一下蘇州歐卡精密光學儀器，他們是專業製造金相分析儀的，開發的金相軟體多大幾千種模塊涉及各類金屬材料的金相組織，軟體自帶金相自動評級，圖譜對照評級，測量功能等等。是同類設備中質量、性能等都處於領先地位的。價格是在同類設備中處於性價比相當高的地位。同時還提供上門安裝培訓，由專業的老師（熱處理協會）進行專業的培訓教課。可根據自身需要進行1天到幾個星期的培訓時間選擇。全國范圍內都可享受提供的上門服務。

截點法就是將處理好的模塊，通過腐蝕後，在放在金相分析儀下面可以看到金屬的金相組織，如銅的晶粒度，呈現出一個個小的不規則的晶粒（形狀不規則，三角菱形等）。然後隨即選擇多個經線清晰的晶粒（以一個晶粒的對角線的兩條交叉線為一個晶粒測量），最後以測量的幾個晶粒的平均值為基準，在去對照表格找到相應的級別。