1、請問大家，SEM樣品都是如何進行前處理的？
用乙醇分散一下，然後塗在導電膠上，最後用洗耳球吹一下，把多餘的吹掉
2、測掃描電鏡需要製成懸濁液嗎，我想觀察樣品的形貌，測SEM還是TEM好？
一般都是需要分散的，否則容易團聚在一起，看不清楚形貌。當然如果你的樣品與乙醇有反應就算了。
如果僅僅是觀測形貌，SEM就可以，只要粒徑不是小到需要高分辨的程度。如果需要對晶體結構有所了解，最好還是做TEM。粉末樣品還是比較容易制備的。
3、為什麼我的樣品滴到矽片上測sem能譜還是能檢測到碳
SEM掃描電鏡掃描電鏡制備品品溶解用溶溶劑進行散鋪雲母片或者矽片溶劑晾乾或烘乾再測
4、掃描電鏡sem和透射電鏡tem對樣品有何要求
透射電鏡是用高能電子束（加速電壓一般在200KV以上）照射樣品，透過樣品的電子由於樣品厚度、元素、缺陷、晶體結構等的不同，會產生不同的花樣或圖像襯度，由此可以推測樣品的相關信息。由於電子束要能透過樣品，因此樣品厚度要求很薄，一般要小於100納米。如果要做高分辨，要求更薄。
5、聚合物想測SEM，如何製作樣品？
既然是看膜，就需要樓主決定要看自然狀態下的膜，還是製品的膜形貌了，製品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的導電膠帶上，處理方式和之前回答你的一樣，噴金、引導電膠。
6、請問SEM可以測液體嗎？
我做過一些次SEM的液體樣品，不過都是把液體樣品放在樣品盤上烘乾之後，噴金，然後再做測試的，一般的 ，一點樣品就夠了，很少的計量 ，但是還是看濃度吧 ，我們的儀器不好，一般都是拿到理化分析中心測的
7、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序？
XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。
8、在表徵塑料樣品時，有沒哪種SEM是不需要噴金的呢？
採用低真空模式或環境掃描模式
9、鎢燈絲掃描電鏡SEM可以測試低碳鋼樣品么？
鎢燈絲測試低碳鋼樣品可以找專業檢測機構