1、界面形貌和斷面形貌在SEM下的區別
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2、採用SEM觀察材料形貌時應注意那些問題
材料的宏觀copy性能往往與其本身的成分、結構以及晶體缺陷中原子的位置等密切相關。觀察試樣中單個原子像是科學界長期追求的目標。一個原子的直徑約為1千萬分之2—3mm。因此，要分辨出每個原子的位置需要0.1nm左右的分辨本領，並把它放大約1千萬倍。
3、哪位大俠可以解釋一下，為什麼SEM和TEM的圖不一致呢？
其實SEM、TEM都如同盲人摸象，只能看到樣品的局部面貌，如果樣品的形貌不夠均勻，很容易就出現樓主所說的情況
4、測掃描電鏡需要製成懸濁液嗎，我想觀察樣品的形貌，測SEM還是TEM好？
一般都是需要分散的，否則容易團聚在一起，看不清楚形貌。當然如果你的樣品與乙醇有反應就算了。
如果僅僅是觀測形貌，SEM就可以，只要粒徑不是小到需要高分辨的程度。如果需要對晶體結構有所了解，最好還是做TEM。粉末樣品還是比較容易制備的。
5、新手求助，如何判別金屬斷口SEM形貌
已經斷開的的試樣可以用鋸子把斷裂截面切下來（1cm左右厚），然後就可以放到SEM里觀察了。至於沒斷開，僅僅開裂的試樣，恐怕只能從式樣表面觀察一下了，同樣也是用句子把含有裂紋的部分切下來即可。時間久了的最大問題是氧化，但是作為SEM觀察，其實氧化也無所謂了，重要的是注意，別把斷口碰了，以免裂紋表面形貌損壞。關於尋找裂紋源其實很簡單，疲勞埠上通常分為裂紋起始區，裂紋擴展區和瞬斷區。裂紋起始區用肉眼看往往呈現為一個光亮的小點，在材料表面或者表面以下一點點的地方。如果樓主在斷口上看到有放射狀分布紋理，那麼這些紋理發散開去的方向是裂紋擴展的防線，這些紋理匯聚的點就是疲勞源了。 查看>>