semedx能譜分析操作

1、sem掃描電鏡能譜分析中是怎麼定為原子的

透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構；掃描式電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌，也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結合，構成電子微探針，用於物質成分分析；發射式電子顯微鏡用於自發射電子表面的研究。

2、掃描電鏡SEM/EDX測試的井深是多少？

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應該是景深吧``

焦深計算公式
L= ±[(r/M)-d]/2α 其中：
L: 焦深
r: 顯像管最小分辨距離
M：放大倍數
d：入射電子束直徑
2α：物鏡孔徑角。
從上面的式子可以看出影響焦深的因素，其中隱含了工作距離w。物鏡孔徑角與工作距離和入射電子束直徑有關。由於r（顯像管的解析度）和2α都是未知數，實際上不能計算。焦深也只是個人的視覺感受，還是直觀的測量一下為好。

又查了資料``顯像管最小分辨距離為0.22mm-0.3mm, 孔徑角的典型數值為10-2—10-3rad.利用公式L= ±[(r/M)-d]/2α可以計算出在有效放大倍率下的焦深數據。設d=3納米，孔徑角2α=10-2 rad，r=0.3mm。計算焦深如下：
1000倍下為59.4微米。5000倍下為11.4微米。10000倍下為5.4微米。超過100000倍已經超過了有效放大倍率。不能計算。

3、混凝土掃描電鏡怎樣分析它的能譜圖

EDS分析是分析元素種類的，利用不同元素的X射線光子特徵能量不同進行成分分析。
完全水化的水泥石，其主要水化產物有：
1）水化硅酸鈣凝膠（C-S-H）約為70%左右。（是水泥石形成強度的最主要化合物）
2）氫氧化鈣晶體（Ca(OH)2）約為20%左右。
3）水化鋁酸鈣約為3%左右。
4）水化硫鋁酸鈣晶體（也稱鈣礬石）約為7%左右。
混凝土中因為有粉煤灰、礦渣粉等膠凝材料，水化產物會有所不同。

4、sem能譜上為什麼有兩個pb的峰

關於SEO和SEM的關系，可以用包含與被包含，部分與整體的概念來理解。

SEO是屬於SEM的一部分，SEO和SEM最主要的是最終目標的不同。

SEO主要是為了關鍵詞的排名、網站的流量、網站的結構、搜索引擎中頁面收錄的數據。

SEM是通過SEO技術基礎上擴展為搜索引擎中所帶來的商業價值，策劃有效的網路營銷方案，包括一系列的網站運營策略分析，並進行實施，營銷效果進行檢測。

我們不難看出，SEO只是SEM整個流程中的一個部分，SEO是為SEM服務的。要想成為真正的搜索營銷高手，光學好SEO還遠遠不夠，只有掌握了真正的SEM知識，並且需要有一個團隊來運作，你才能做到SEM。

希望有幫助到你吧

5、sem/edx 分析是什麼意思

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6、EDS、EDX和EDXRF有什麼區別

區別如下：

1、EDX是熒光分析，EDS是能譜分析，EDXRF是能量色散型熒光X射線。

2、EDS能量色散溥儀，按能量展譜，主要器件為Li-Si半導體探測器.主要利用X光量子的能量不同來進行元素分析。

3、EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的， 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡使用，可以對樣品進行微區成分分析。

(6)semedx能譜分析操作擴展資料：

EDS是多義詞，汽車製造領域是指（ 電子差速鎖）英文全稱為ElectronicDifferentialSystem， 它是ABS的一種擴展功能，用於鑒別汽車的輪子是不是失去著地摩擦力，從而對汽車的打滑車輪進行控制。另有an HP company 是全球信息服務業領導者之一，以協助全球客戶提高企業的運營績效。另有EDS (能譜，Energy Dispersive Spectrometer)，EDS電氣設計軟體包。另有CANopen協議描述專用電子數據表格。

EDS的工作原理比較容易理解。因為差速器允許傳動軸兩側的車輪以不同的轉速轉動，如果傳動軸某一側的車輪打滑或者懸空時，會造成另一側車輪完全沒了動力，當EDS電子差速鎖通過ABS系統的感測器，自動探測到由於車輪打滑或懸空而產生的兩側車輪轉速不同的現象時，就會通過ABS系統對打滑一側的車輪進行制動，從而使驅動力有效地作用到非打滑側的車輪，保證汽車平穩起步。當車輛的行駛狀況恢復正常後，電子差速鎖即停止作用。

當汽車驅動軸的兩個車輪分別在不同附著系數的路面起步時，例如一個驅動輪在乾燥的柏油路面上，另一個驅動輪在冰面上，EDS電子差速鎖則通過ABS系統的感測器會自動探測到左右車輪的轉動速度，當由於車輪打滑而產生兩側車輪的轉速不同時，EDS系統就會通過ABS系統對打滑一側的車輪進行制動，從而使驅動力有效地作用到非打滑側的車輪，保證汽車平穩起步。

常用的EDX探測器是硅滲鋰探測器。當特徵X射線光子進入硅滲鋰探測器後便將硅原子電離，產生若干電子-空穴對，其數量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對，經過一系列轉換器以後變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，並計數能譜中每個能帶的脈沖數。

7、能譜掃描成分的深度是多少？

Q :用SEM中的EDS做元素麵掃描，其反映的是多少深度的信息？RE:分析深度取決於樣品本性和選用的參數，不同的加速電壓，穿透深度不一樣，電壓越高，X射線激發深度越深 ,通常5KV一個單位入射深度2-3個mirc. 電壓強度越高入射深度越強. 輕元素比較深，重元素相對較淺。具體書上有公式計算。和加速電壓，元素的吸收系數等有關系。一般在幾微米左右，重元素可能在幾百納米。

8、液體可以做SEM/EDX分析其中雜質顆粒的元素嗎

國內做SEM一般用鎢針尖去掃光滑固體表面，然後得電壓。做液體的話，我覺得有以下幾個問題：1.由於鎢上面有偏壓，若分析的雜志帶電或有極性就沒法測了（會通電的） 2.如果掃液體表面會由於表面張力是液體吸附上去 3.在液體內部測試的話，你得測那些無極性的大雜質顆粒，但這樣容易碰壞針尖，針尖一般只有幾個原子。 反正我覺得沒法測。 EDX這個我不清楚，似乎是可以的。 你是不是吧SEM看錯了，是SERS（表面增強拉曼）吧。

9、SEM/EDX在測表面元素的時候測得多深？拜託了各位 謝謝

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