1、【求助】氣相進樣口漏氣怎麼辦？
新墊怎麼會漏呢？charls(站內聯系TA)什麼牌子的，可能是你的進樣墊有問題！sss841011(站內聯系TA)估計是進樣墊有問題，可以換個好點廠家的氣相墊試試:Dsdzktd(站內聯系TA)估計你的進樣口和氣相墊銜接處不牢固，還有進樣墊時間太久的話容易老化幸福雲景(站內聯系TA)換進樣墊時同時更換一下襯管上面的O型圈，是不是O型圈老化了？zyx00921(站內聯系TA)O形圈可能老化了flemingo(站內聯系TA)如果墊子沒問題（比如原裝的安捷倫的），有可能是你進樣的時候動作不標准。針頭把墊子的小口戳大了。換個新墊子，然後幾天不進樣，看看是不是還漏氣。如果漏，就是墊子沒放好，不漏就是進樣的問題了。
2、氣相色譜儀進樣口漏氣，會影響組分測量結果嗎？
進樣口漏氣，會影響測量組分的結果的
會使所測組分的種類增加.你測量的有問題吧.
重做實驗吧
3、掃描電鏡sem的主要原理是什麼？測試過程需要重點注意哪些操作
電鏡的原理是：電子槍發出電子束打到樣品表面，激發出二次電子、背散射電子、X-ray等特徵信號，經收集轉化為數字信號，得到相應的形貌或成分信息。
測試注意事項：
1、新人找別人幫忙測試時，
明確自己的測試內容，如何樣品前處理，測試時間，然後跟測試相關人員聯系確定能否滿足你的測試需求
2、新人自己操作測試時，
明確自己的測試內容，如何樣品前處理，測試時間，
測試時注意樣品乾燥潔凈，操作時樣品和樣品台避免撞到探頭
4、gc1690氣相色譜儀進樣器漏氣怎麼辦
故障 可能的原因 檢查與維修
1.FID沒點火火焰熄滅 a. 載氣氫氣和空氣流量不適b. 檢測器溫度低c. 噴嘴堵塞d. 空氣泄漏閥不良e. 氫氣流路堵塞 a. 用流量計檢查b. 提高溫度c. 清洗或更換d. 檢查操作是否正確e. 更換
2．不出峰 a. 火焰熄滅b. 嘴頭無高壓c. 漏氣d. 儀器滿量程偏轉e. 靈敏度太低f. 樣品吸收g. 數據處理器的毛病 a. 重新點火b. 用萬用表檢查c. 做漏氣檢查d. 旋轉零點調節檢查e. 檢查范圍與樣品量f. 重復實驗，檢查分析條件g. 短路輸入信號，檢查操作是否正確
3．基線不穩 a. 電源電壓波動b. 信號電纜沒接上c. 漏氣d. 檢測器污染e. 管路污染f. 柱污染g. 樣品器氣化室污染h. 載氣不純i. 質量流量控制器（調壓器）故障j. FID控制器毛病 a. 用萬用表或示波器檢查b. 振動信號電纜c. 做漏氣實驗d. 拆開清洗e. 更換f. 更換或老化柱子g. 用溶劑清洗h. 更換載氣或接過濾器i. 更換j. 更換或維修
4．有噪音 a. 電壓噪音b. 零點調節器故障c. 噴嘴污染d. FID控制器故障e. 數據處理器毛病f. FID信號電纜沒接通g. 空氣源硅膠劣化 a. 更換電源或接濾波器b. 更換c. 拆下清洗d. 更換或維修e. 短路輸入信號，檢查操作是否正確f. 拆開清洗g. 更換
5．峰變寬 a. 載氣流量低b. 柱溫低c. 存在死體積d. 柱劣化e. 柱選擇錯誤（類型或長度）f. 樣品氣化室或檢測器溫度低 a. 增大流量b. 提高柱溫c. 檢查柱接頭d. 更換或老化柱子e. 更換柱子f. 升溫
6．峰變尖 a. 載氣流量高b. 柱溫高c. 柱劣化d. 柱選擇錯誤（類型或長度） a. 降低流量b. 降溫c. 更換或老化柱子d. 更換柱子
7．峰拖尾 a. 玻璃襯管損壞b. 進樣量過大c. 柱選擇錯誤d. 樣品氣化室污染 a. 更換b. 檢查范圍與進樣量c. 更換柱子d. 溶劑清洗
8．出現反常峰 a. 進樣隔膜出現鬼峰b. 樣品分解（或變化）c. 以前出現的峰重新出現d. 玻璃襯管污染e. 進樣隔膜有刺孔 a. 老化隔膜b. 檢查分析條件及樣品准備方法c. 老化柱子d. 清洗襯管和樣品氣化室e. 更換
5、關於SEM掃描電鏡的幾個問題，求大神出現...
如果是即將開始學習儀器操作的管理人員，建議先系統學習理論知識，再找專業的儀器工程師培訓。如果是學生，要使用電鏡，從安全形度考慮，1、2、3幾項通常是值機人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機，一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟體一般都已經設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻後再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極限時會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備；4，電子束與試樣作用，可激發出多種信號，如二次電子信號（用於形貌觀察），背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究），這些信號已經被有效的加以利用，這是一門獨立的學科，若需要詳細了解，你需要系統地學習一下。
6、掃描電鏡樣品高過檢測線會損壞探頭么
只要不碰到探頭，就不會造成損壞，但高過檢測線，不利於能譜信號接收，不平整的樣品對探頭有潛在危險。
7、有沒有用過掃描電鏡（SEM）的呀？我想看下我篩出來細菌的樣子，但是不知道怎麼對 樣品進行處理！
暈，那樣能看到才怪。sem樣品要有一定導電性才行，不然電荷聚集你什麼也看不到。樓上正解
8、掃描電鏡樣品的處理
關鍵看你的實驗目的是什麼。
如果A樣品和B樣品是兩個單獨的實驗，不用做橫向對比，那麼用不同的制樣方法沒有什麼問題。
如果兩個樣品在合成制備過程中用了不用的方法或者條件，要用SEM做橫向比對，制備的結果。那麼，最好用同樣的制樣方法。否則，即使你在SEM下看到了明顯不同的結果，你也難以判斷是由於SEM制樣方法不同造成的，還是，由於合成制備方法不同造成的影響。
如果超聲是你樣品合成制備過程的一部分，因而，有必要比較超聲前和超聲後樣品的區別。那麼，對於兩個平行樣品，一個樣品經過超聲處理，一個樣品直接乾燥，是很合理的實驗安排。可以探討超聲過程（工藝）對最終結果的影響。
總之，對於SEM儀器或者這個表徵手段來說，超聲或者不超聲，做出來的樣品，是可以放到一起觀察的。問題的關鍵在於你想知道什麼。