1、eds分析fpc中碳氧含量正常是多少
要看打什麼位置和深度。
而且，碳氧含量較正常值有偏差也很難說明什麼問題。（比如表面氧化、油污沾附、手觸摸、指套接觸等等，都會影響此含量）
具體問題具體分析吧，可追問。
2、為什麼eds分析出來的hy分子篩碳含量比硅含量還高
為什麼eds分析出來的hy分子篩碳含量比硅含量還高
根據化學成分 最接近的 是GH3128高溫合金
GH3128特性及應用領域概述：
該合金是以鎢、鉬固溶強化並用硼、鈰、鋯強化晶界的鎳基合金，具有高的塑性、較高的持久蠕變強度以及良好的搞氧化性和沖壓、焊接性能。其綜合性能優於GH3044和GH3536等同類鎳基固溶合金。適用於製造在950℃下長期使用工作的航空發動機的燃燒室火焰筒、加力燃燒室殼體、調節片及其他高溫零部件
3、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區別以及各自的應用
SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用於微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用於物相分析的檢測設備。
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM，圖2-17、18、19）於20世紀60年 代問世，用來觀察標本的表面結構。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子 束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。為了使標本表面發射出次級電子，標本在固定、脫水後，要噴塗上一層重金屬微粒，重金屬在電子束 的轟擊下發出次級電子信號。 目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特徵能量不同這一特點來進行成分分析的。使用范圍：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；
3、可對固體材料的表面塗層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。
4、用X射線熒光分析儀能分析碳含量和硼含量嗎？
原則上都可以。
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對輕原子像 C, B 等，更方便的是用俄歇譜。
5、關於銹層的掃描電鏡試驗
即使你是走腐蝕失效分析的，你對鑄鋼樣品腐蝕曾德分析，也仍然會有多種不同的目的，當然也會要求使用不同的分析方法和儀器。
你提到想用SEM+EDS做銹層元素分布。估計你的目的是要分析腐蝕過程中元素的遷移情況。這個有意義的位置不在銹蝕下來的鐵銹本身，而是在基體銹蝕層的表層。原因是，基體之所以發生腐蝕失效，是與基體抵抗腐蝕介質的能力、腐蝕介質與基體間的相互作用機制（腐蝕機理）等相關的。例如，你所講的鑄鋼，在通常的鹽霧試驗後，其表面的腐蝕到底是均勻腐蝕、還是非均勻腐蝕（孔蝕）？是化學腐蝕、電化學腐蝕還是符復合機制？是沿晶界還是穿晶腐蝕？等等這些，都需要你對界面和基體表層進行分析觀察。
希望你按照上面的分析思路能夠有所收獲。
6、SEM EDS相對質量分析
你當然可以這么做，只是誤差比較大。
實際一般情況我們只需要知道相對量就好了，並不需要這么精確的數值。
如果確實需要精確數值，那需要標定，畢竟不同元素的響應值區別還是很大的。
實際上，你的ZSM-5的硅鋁比就能驗證，SEM數值跟化學法數值差距還是很大的；但這並不妨礙很多人直接用SEM數據表徵他們樣品的硅鋁比
7、用EDS做元素分析時碳元素為什麼這么多？？？
用EDS做元素分析時碳元素為什麼這么多？
,是電子顯微鏡(掃描電鏡、透射電鏡)的重要附屬配套儀器,