sem圖測長徑比

1、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(1)sem圖測長徑比擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

2、【請教】怎麼統計納米棒的長徑比？

而且是免費的軟體，不涉及盜版。
推薦你用scion image,我用過，很好用。而且是免費的軟體，不涉及盜版。
可以大量統計長徑比。:D 這個軟體怎麼用啊，有中文手冊嗎？給我一個我啊shitand(站內聯系TA)繼續求高手無敵烽火輪(站內聯系TA)scion image 官網有英文說明，中文的好想沒有。大概的做法就是把你的要分析的圖片在ppt上標出白底黑色的顆粒再轉成bitmap格式得圖片，然後從scion image上打開，進行計算，可以選擇長徑比選項，然後計算出來的格式都是有兩個直徑，一個長徑一個短經。自己再從excel上算一下長徑比就可以了tqliu(站內聯系TA)拍個圖自己量一量就行了

3、SEM可測量的長度下限是多少

您好，它是一個"原子操作"即同時對同一個信號量做加"1"操作的兩個線程是不會沖突的;而同時對同一個文件進行讀、加和寫操作的兩個程序就有可能會引起沖突。信號量的值永遠會正確地加一個"2"--因為有兩個線程試圖改變它。函數在成功時都返回"0"。

4、什麼是長徑比

對於顆粒測試來說，長徑比與長寬比的概念相同，即：經過顆粒內部的最長徑，和與它相垂直的最長徑之比，如圖所示，此參數常用來表述顆粒形貌，以判斷其形狀是否接近於正形體，在針狀顆粒的判斷中具有實用價值。

使用顆粒圖像工作站測試，此設備用圖像法原理，可以在顆粒投影面中找到R1和R2，並獲取其比值，還可以將多個顆粒的長徑比進行分析統計。

(4)sem圖測長徑比擴展資料：

應用;

在有爆炸危險性的建築中，長徑比過大的空間，在泄壓過程中會產生較高的壓力。以粉塵為例，空間過長，在爆炸後期，未燃燒的粉塵-空氣混合物受到壓縮，初始壓力上升，燃氣泄放流動會產生湍流，使燃速增大，產生較高的爆炸壓力。

因此，有可燃氣或可燃粉塵爆炸危險性的建築物不宜建造得長徑比過大，以防止爆炸時產生較大超壓，保證所設計的泄壓面積能有效作用。

5、長徑比是什麼？

長徑比是指對於柱形物體，其長度與直徑的比值。

對於顆粒測試來說，長徑比與長寬比的概念相同，即：經過顆粒內部的最長徑，和與它相垂直的最長徑之比，如圖所示，此參數常用來表述顆粒形貌，以判斷其形狀是否接近於正形體，在針狀顆粒的判斷中具有實用價值。

使用顆粒圖像工作站測試，此設備用圖像法原理，可以在顆粒投影面中找到R1和R2，並獲取其比值，還可以將多個顆粒的長徑比進行分析統計。

(5)sem圖測長徑比擴展資料：

1、原始寬高比：　

例如神鬼戰士首次在電影院放映時，使用 2.39:1 比例。它原本使用Super 35毫米膠片拍攝，除了在電影院中和電視上放映外，電視廣播時也未經過 matte 處理以適應 1.33:1 的畫面。由於拍攝電影使用的各種方法，「預期寬高比」是比較精確的說法，但很少使用。

2、適應寬高比：

適應寬高比通常是 1.33:1 或 1.78:1。1.33:1 的適應寬高比在歷史上VHS格式所使用。而 matte 方法指的是，例如從 1.78 畫面伸展至 1.33 畫面時會有一些損失的部分，由於畫面主題不一定在中央，所以必須使用它來保持畫面主題的方法。